如下圖所示，GD32F303 ADC內(nèi)部17通道為VREFINT參考電壓通道，內(nèi)部參考電壓的典型數(shù)值為1.2V。
當外部參考電壓波動較大的情況下，如何通過內(nèi)部參考電壓通道提高ADC采樣精度呢？
比如我們采樣ADC_IN0通道的電壓VIN0，那么采樣的數(shù)值為:
$$Rin0 = (VIN0/VREF) * 4096. ----公式1$$
其中，Rin0為通道0的采樣數(shù)值，VIN0為通道0的輸入電壓，VREF為參考電壓。
采樣完通道0后，我們可以立即采樣VREFINT內(nèi)部參考電壓，那么內(nèi)部采樣電壓采樣的數(shù)值為：
$$Rrefint = (VREFINT/VREF)*4096. ----公式2$$
將公式1/公式2將得到：
$$Rin0/Rrefint = VIN0/VREFINT$$
進而得到以下公式：
$$ VINT0 = （Rin0 / Rrefint）*VREFINT .$$
由以上公式可得到通道0的電壓值可通過內(nèi)部參考電壓以及內(nèi)部參考電壓的采樣值來計算，可不受外部參考電壓的變化而影響，進而提高了在外部參考電壓波動較大的情況下采樣誤差的精度。
PS：建議可在外部參考電壓較大的情況下使用該方法，如果外部參考電壓比較準的話，還是可以直接采樣的。
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